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可靠性试验方法

可靠性试验方法 可靠性试验应按照试验对象、产品用途和试验目的等，选择适当的试验方法、试验条件和确定合理的评价标准。 做可靠性试验首先应明确失效模式分析的项目，然后按器件的结构、工艺和使用条件等,选择环境因子，即选择应力因子。应力分单一应力和组

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失效判据举例

失效判据举例 本节介绍确定晶体管、数字集成电路和线性集成电路等半导体器件失效判据的实际例子。其他系列半导体器件的失效判据基本上可用同样的方法来规定。 (1)晶体管的失效判据 表2.1.1列出了晶体管典型特性参数的失效判据。由于晶体管的种类和用途的不同,

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失效判据的确定

失效判据的确定 合格的半导体器件以器件的电特性和其他性能等在可靠性试验中不发生变化为最理想。但实际上通过可靠性试验后，器件的各种特性参数中有些会改变。从提髙可靠性的观点出发在失效模式、失效机理保持不变的前提下，可以使器件在加严的条件下进行试

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电子元器件的可靠性试验概述

电子元器件的可靠性试验概述 为了深入了解13大类、37小类电子元器件的可靠性试验,我们这里先以半导体器件为代表，初步了解一下可靠性试验的全貌。半导体器件的可靠性试验，可根据试验目的而灵活运用各种方法。通过各种可靠性试验进行可靠性评价时，应考虑到重

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可靠性试验的分类

可靠性试验的分类 可靠性试验的范围非常广泛。从广义上说，凡是与可靠性有关的试验都可以称为可靠性试验。它的分类方法很多。通用的可靠性试验，可按不同的分类方法进行分类(请参阅1.5节)。 我们这里要介绍电子元器件的可靠性试验。但我们知道:电子元器件有13

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