电子元器件的失效率试验
通常电子元器件的可靠性水平的髙低用失效率表示，所以我们先介绍电子元器件的 失效率试验。
电子元器件失效率是考核其寿命或可靠性水平的一种定量的指标。电子元器件的可 靠性试验就是电子元器件的失效率试验。为确定产品的失效率而进行的寿命试验称为失 效率试验，这种试验主要用于其寿命能合理地认为是服从指数分布,在本质上是同一设 计，建立了可靠性与质量管理的批量产品和连续生产的产品。就是说,用这种方法对产品 的失效率进行验证时，生产管理应该是严格的，生产过程比较稳定，生产批次之间变化较 小。这样，在累计数据的前提下，可以逐步保证产品有较高的可靠度等级。