失效判据的确定
合格的半导体器件以器件的电特性和其他性能等在可靠性试验中不发生变化为理 想。但实际上通过可靠性试验后，器件的各种特性参数中有些会改变。从提髙可靠性的 观点出发 > 在失效模式、失效机理保持不变的前提下，可以使器件在加严的条件下进行试 验,也就是在使试验条件部分地超过額定值的条件下进行试验，这就是加速寿命试 验。这时，必须充分认识到超过额定条件这一情况，并考虑其加速性。规定失效判 据，可以通过下述两个途径进行：
①对半导体器件进行可靠性分析。
②根据设备的电路安全系数等因素和使用条件来决定。
显然，①是以半导体器件的失效模式、失效机理等失效物理概念来决定失效判据的方 法;②是根据设备规定的特性来决定失效判据的方法。在实际的可靠性活动中，应在充分 考虑上述两种方法后，再确定失效判据。