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电子元器件的寿命试验

电子元器件的寿命试验 寿命试验是评价、分析产品寿命特征的试验，它是在实验室条件下，摸拟实际工作状态或储存状态，投人一定样品进行试验，试验中记录样品失效的时间，并对这些失效时间进行统计、分析，以评估产品的可靠性数量特征(如可靠度、失效串、平均

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升级试验程序

升级试验程序 定级试验合格的产品可继续进行升级试验。升级试验的数据可从定级试验和维持试验的样品进行延长试验，以及为升级试验投人的样品进行的试验中得出。升级试验按下列程序进行： ①确定待升的失效率等级(一般比原定的等级髙一级),置信度(一般为60%,必

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维持试验程序

维持试验程序 定级试验合格的产品，应按产品技术规范规定的维持周期进行该等级的维持试验。维持周期分I、II组(表2.2.4)。维持试验按下列程序进行： ①确定允许失效数c。 ②根据产品已试验合格的失效率等级及允许失效数由表2. 2.4查出所需要的总试验元件小时数

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常用的失效率试验的程序如下

常用的失效率试验的程序如下。 定级试验程序 ①确定失效率等级、置信度(一般取60%,必要时也可取90%)和允许失效数c,置信度和允许失效数选定后,在试验过程中不得更换。 ②根据失效率等级,置信度和允许失效数，由表2. 2.2和表2.2.3查出所需的总试验元件小时数了

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大理-IP5.6淋雨试验箱

大理-IP5.6淋雨试验箱 大理-IP5.6淋雨试验箱- ◎、将样品按正常工牛时的结构状态放入试验箱经受垂直落下的水滴，或者为了模拟各种使用情况，使产品相对于垂直平面倾斜规定的角度经受水滴。如果样品所需经受滴水试验的面很多，为了使所有需要经受滴水试验的面

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