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长期工作寿命试验

长期工作寿命试验 我们把电子产品在规定的工作及环境条件下进行的寿命试验称为工作寿命试验。工作寿命试验周期在1000小时以上者称为长期工作寿命试验。长期工作寿命试验又分连续工作寿命试验和间断工作寿命试验两种。 连续工作寿命试验 这是传统的寿命试验方

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长期寿命试验

长期寿命试验 1.长期储存寿命试验 我们把电子产品在规定的环境条件下非工作状态的存放试验称为储存寿命试验。储存寿命试验周期在1000小时以上者称为长期储存寿命试验。如半导体三极管总技术条件中规定，每种型号的半导体三极管，每年应取一定数量的管子,存放

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电子元器件的寿命试验

电子元器件的寿命试验 寿命试验是评价、分析产品寿命特征的试验，它是在实验室条件下，摸拟实际工作状态或储存状态，投人一定样品进行试验，试验中记录样品失效的时间，并对这些失效时间进行统计、分析，以评估产品的可靠性数量特征(如可靠度、失效串、平均

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升级试验程序

升级试验程序 定级试验合格的产品可继续进行升级试验。升级试验的数据可从定级试验和维持试验的样品进行延长试验，以及为升级试验投人的样品进行的试验中得出。升级试验按下列程序进行： ①确定待升的失效率等级(一般比原定的等级髙一级),置信度(一般为60%,必

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维持试验程序

维持试验程序 定级试验合格的产品，应按产品技术规范规定的维持周期进行该等级的维持试验。维持周期分I、II组(表2.2.4)。维持试验按下列程序进行： ①确定允许失效数c。 ②根据产品已试验合格的失效率等级及允许失效数由表2. 2.4查出所需要的总试验元件小时数

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