专注于 恒温恒湿试验箱， 高低温试验机， PCT高压试验箱， 盐雾试验箱等环境试验设备生产，满足您的一切定制需求！

温度冲击试验箱详细的测量方法

温度冲击试验也许是疲劳测量系统中的一个重要部分，因为它可能会对材料性能以及应力测量系统产生影响。

查看详情

电子元器件的可靠性增长试验方法

电子元器件的可靠性增长试验方法 概述 电子元器件可靠性增K分析是最近发展起来的评价产品可靠性的一种新技术，是在产品研制阶段，通过试验的方法来暴露电子元器件可靠性的薄弱环节，提供受试元器件在规定条件下失效模式(失效的外部表现。如发射机无输出功率,

查看详情

加速寿命试验的理论依据

加速寿命试验的理论依据 半导体器件等电子元器件在使用或储存过程中，总存在着某种比较缓慢的物理化学变化。当这一物理化学变化过程发展到一定阶段，器件的外观特性和功能就逐步变化，最终导致特性的退化和功能的完全丧失，即失效。器件的失效大多是由于器件

查看详情

速寿命试验方案的基本想法

速寿命试验方案的基本想法 为了通过试验获得准确和足够的数据,有效地反映产品的可靠性数量特征，加速而又真实地暴露失效模式，以及避免在时间和费用上造成很大浪费,所以，在试验之前必须周密地计划，做出妥善的安排。由于加速寿命试验的设备基本与长期寿命试

查看详情

加速寿命试验

加速寿命试验 随着电子元器件可靠性水平的不断提高，采用常规的正常应力下的长期寿命试验实在太耗费人力、物力和时间了，有时甚至是不可能的。人们经过长期的实践，提出一种加速试验的方法来解决这一矛盾。 所谓加速寿命试验就是用加大应力的方法促使样品在短

查看详情