电子元器件失效率试验的种类和方法
1.失效率试验的种类
通常失效率试验分为定级试验、维持试验和升级试验3种。
定级试验
为首次确定产品的失效率等级而做的试验，或在某一失效率等级的维持和升级试验 失败后，对产品重新确定其失效率等级而进行的试验称为定级实验。
维持试验
为证明产品的失效率等级仍不低于定级或升级试验后所确定的失效率等级而进行的
试验称为维持试验。
升级试验
为证明产品的失效率等级比原定的失效率等级更高而进行的试验称为升级试验。
失效率试验的方法
对电子元器件失效率所进行的可靠性试验,根据不同的试验目的可以分为两种方法：
可靠性验证试验
如果主要目的是为了确定是否符合某规定的失效率时，应采用此方法。此时，生产厂 的义务是在所要求的置信度下验证产品是否符合所要求的失效率等级。由于生产厂同意 提供某规定的失效率等级，所以，试验的等级是按产品被鉴定的失效率来确定的。
可靠性测定试验
如果主要目的是为了对产品的可靠性进行评价时,应采用此方法。此时，生产厂的义 务是按照规定进行试验，并就试验结果提出报告。试验所确定的失效率与同类试验结果 相比较。试验等级与所报告的失效率无关。
这两种方法既适用于本质上是连续生产的元器件失效率试验,也适用于单批产品的 失效率试验。