可靠性试验的分类
可靠性试验的范围非常广泛。从广义上说，凡是与可靠性有关的试验都可以称为可 靠性试验。它的分类方法很多。通用的可靠性试验，可按不同的分类方法进行分类(请参 阅1.5节)。
我们这里要介绍电子元器件的可靠性试验。但我们知道:电子元器件有13大类、37 小类，要详细地介绍它们的可靠性试验没有必要。我们只要淸楚地知道电子元器件的主 要的可靠性试验，熟悉了解某些有代表性的电子元器件的全部可靠性试验，就会淸楚任一 种电子元器件的可靠性试验。所以,这里我们把电子元器件的可靠性试验按半导体器件 的可靠性试验方法、电子元器件的失效率试验、电子元器件的寿命试验、电子元器件的可靠性增长试验、电子元器件的可靠性筛选试验、电子元器件的例行试验和电子元器件的认 定及认证试验、电子元器件的现场可靠性试验等8部分进行介绍。其中半导体器件的可 靠性试验是选出半导体器件为代表，先粗略地介绍一下电子元器件的可靠性试验的概况， 其余各个试验均为电子元器件的主要的可靠性试验。