紫外老化箱不同老化条件下的空间电荷研究对电介质老化，降解和击穿机理的理解引起了科学家多年的兴趣，这是由于电介质的广泛应用。降解和击穿机理比老化机理更加容易理解，老化仍然是一个很有争议的话题。显示不同电场强度下会导致绝缘失效的不同机理。击穿机理发生在一个电场持续时间很短内，时间数量级在微妙，并分为电，电-机械或热击穿。在这些情况下失效是由于存在高场强而不能达到稳态引起，当电场超过机械能够承受的临界值加速直到击穿。
 
 
当电荷在材料体内形成时，其中的一部分电荷成为了空间电荷。可将陷阱大概分为两大类，即深陷阱和浅陷阱。浅陷阱是更容易捕获和释放电荷的那一类陷阱，通常其陷阱能级深度范围在0.15~0.3eV，载流子的寿命剩余时间在10-12 s的数量级以内；相反，深陷阱的陷阱能级范围在0.4~1.5eV，对应的载流子的寿命剩余时间无限长，当电荷被这类陷阱捕获时，电荷将很难脱陷，最终形成了材料内部局部区域的空间电荷。
 紫外老化箱虽然对聚乙烯材料微观形态、陷阱和空间电荷之间的关系得到一定的理解，并有文献提出一些陷阱模型对电荷在材料中的入陷和脱陷动力学过程进行数值模拟，但模型中载流子的陷阱参数如陷阱能级深度和陷阱密度等值的确定却是根据半导体材料中的一些经验值，这很可能对电荷入陷和脱陷动力学过程产生较大误差，因此，有必要寻求一种能够真实反应材料内部陷阱参数的空间电荷陷阱模型。 http://www.zhenghangyq.com