电子元器件的可靠性试验
随着国民经济的迅速发展和新技术革命的掀起，电子产品广泛应用于工业、农业、国 防、科研等各个领域，而且电子设备的复杂程度愈来愈高，使用的环境条件愈来愈恶劣，对 电子设备的可靠性要求愈来愈高。然而，电子元器件的可靠性是电子设备可靠性的基础, 要提高电子设备的可靠性除了加强可靠性设计外，首先必须提高电子元器件的可靠性。 要提高电子元器件的可靠性除了加强电子元器件的可靠性设计和加强生产过程的可靠性 管理外，开展电子元器件的可靠性试验(失效率试验)是一项很重要的基础工作。通过开 展元器件的可靠性试验,可以明确地了解元器件存在的质量与可靠性问题，对症下药，加 以解决;同时通过电子元器件的可靠性试验可以得到元器件的失效率U)数据，从而通过 这些数据评价元器件的可靠性水平。元器件失效率数据是电子设备可靠性设计的基础， 是对电子设备可靠性进行定量分析的基础。过去由于一个小小的元器件失效，导致设备 失效，使得导弹试验空中爆炸，人造卫星进人发射场又拉回来的例子屡见不鲜。这些事件 不仅给当事国造成很大的经济损失，而在政治上也造成恶劣影响。可见，电子元器件的 可靠性是非常重要的。而电子元器件的可靠性试验是保证和提高电子元器件可靠性水平 的重要手段，在电子产品可靠性工程中占据很重要的地位。
为评价、分析电子元器件的可靠性而进行的试验称为电子元器件的可靠性试验,其目 的是考核电子元器件在运输、使用等情况下的可靠性。因此试验条件必须是模拟电子元 器件在运输、使用时的客观条件，这就要求试验时对受试样品施加一定的应力，诸如电气 应力、气候应力和机械应力等。这些应力可以单独作用,也可以几种应力综合作用。试验 目的是要看在这些应力的作用下，电子元器件反应出的性能是否稳定,其结构状态是否完 整或是否有所变形，从而判别其产品是否失效。